MAX 10通用I/O用户指南

ID 683751
日期 2/21/2017
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2.3.2.4. 可编程电流强度

您可以通过修改电流驱动强度,来减少远距离传输线路或者传统背板造成的高信号衰减影响。
表 7.   MAX® 10 器件的可编程电流强度下表列出了每个 MAX® 10 器件I/O管脚的输出缓冲器对于I/O标准具有一个可编程电流强度控制。
I/O标准

IOH / IOL电流强度设置(mA)

(默认设置以粗体表示)

3.3 V LVCMOS 2
3.3 V LVTTL 8, 4
3.0 V LVTTL/3.0 V LVCMOS 16, 12, 8, 4
2.5 V LVTTL/2.5 V LVCMOS 16, 12, 8, 4
1.8 V LVTTL/1.8 V LVCMOS 16, 12, 10, 8, 6, 4, 2
1.5 V LVCMOS 16, 12, 10, 8, 6, 4, 2
1.2 V LVCMOS 12, 10, 8, 6, 4, 2
SSTL-2 Class I 12, 8
SSTL-2 Class II 16
SSTL-18 Class I 12, 10, 8
SSTL-18 Class II 16, 12
SSTL-15 Class I 12, 10, 8
SSTL-15 Class II 16
1.8 V HSTL Class I 12, 10, 8
1.8 V HSTL Class II 16
1.5 V HSTL Class I 12, 10, 8
1.5 V HSTL Class II 16
1.2 V HSTL Class I 12, 10, 8
1.2 V HSTL Class II 14
BLVDS 16, 12, 8
SLVS 16, 12, 8
Sub-LVDS 12, 8, 4
注: Intel建议通过执行IBIS或者SPICE仿真来确定用于特定应用的最佳电流强度设置。